MCGO

기기명 (Instrument) :  NonNon-Contact Resistivity Tester

제작회사 (Manufacturer) :  NAPSON

형식 (Model) :  EC-80P

세부내용 (Description) : 

특징

- Rs : 0.01~3000Ω/sq 
- Res : 0.001~200Ω·cm 
- Applications : Silicon wafer, GaAs Epi, GaN, GaP, InP, ITO and metal layers 
- Size : Any kinds of sizes (more than 14 mm)

상세설명

- Hand held eddy current probe measurement instrument 
- 3 Measurement modes for wafer resistivity, bulk resistivity and sheet resistance
- Resistivity probe can be changed by sample's range
- Possible to add PN measurement probe (EC-80P-PN)
- 5 types of model for each measuring range

- Res : Low – 0.001~0.05 Ω·cm                     
           Middle – 0.05~0.5 Ω·cm                              
           High – 0.5~60 Ω·cm                                    
           Super High – 60~200 Ω·cm                         
           Solar Wafer – 0.2~15 Ω·cm                         
-  Rs : Low – 0.01~0.5 Ω/sq
         Middle – 0.5~10 Ω/sq
         High – 10~1000 Ω/sq
         Super High – 1000~3000 Ω/sq
         Solar - 5~500 Ω/sq

첨부 (Attach)

   파일내용 (The content of file) : 

   사진 (Picture)  :